设备简介：

原子力显微镜为纳米级检测表征仪器，AFM(multimode VIII)为最新型号，具备多种新功能，是目前最先进的系统，具有系统稳定、热漂移小、分辨率高、质量可靠、软件功能强大、易用等特点，可高速，高通量获取所需信息包括电学、磁学、弹性、粘滞性以及样品形貌等特征。

技术指标：

1、显微镜：多种可选Multimode SPM扫描头；AS-12系列：横向(X-Y)范围10µm×10µm,竖直(Z)范围2.5µm；AS-130系列：横向(X-Y)范围125µm×125µm,竖直(Z)范围5.0µm；PF50：横向(X-Y)范围40µm×40µm,竖直(Z)范围20µm；

2、噪声：垂直(Z)方向上的RMS值≤ 0.3埃（带防震系统的测量值）；

3、低热飘移水平，0.2nm/Min（测试原子像扫描可取5000×5000点扫描，扫描速度低于1Hz，扫描范围小于20nm）；

4、分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率 (以对云母，石墨原子像成像表征)。

主要功能：

1、Contact AFM(接触模式原子力显微镜)；

2、 Tapping AFM(轻敲模式原子力显微镜)；

3、Tapping and contact AFM in liquid(密封液体池中的轻敲模式和接触模式原子力显微镜)；

4、MFM(磁力显微镜)；

5、STM；

6、力学测量。

应用领域：

1、材料表面原子、分子纳米级结构研究；

2、生物大分子结构研究(DNA，蛋白质等)；

3、纳米级的刻蚀及表面修饰；

4、纳米水平的材料硬度、损伤等力学性质测量；

5、磁力显微镜功能，可以测量微区的磁学性质；

6、电化学环境下表面原子、分子级结构测量；

7、集成电路表面缺陷、光盘质量检测。