设备简介：
扫描离子电导显微镜技术 (scanning ion conductance microscopy,SICM)，是一种专门用于非接触研究非导电样品的扫描探针显微镜技术。通过悬于观测样品表面并同时记录离子电流的玻璃纳米扫描探针获取拓扑图像以实现非接触成像，这一技术能对柔软和精细的表面进行纳米尺度的形貌成像、应用和功能研究。
技术指标：
扫描分辨率
X/Y轴向20nm，Z轴向5nm
主要功能：
扫描离子电导成像
应用领域：
生命科学和材料科学
