设备简介：

扫描探针显微镜系统是国际上材料微纳结构检测和分析的先进科研设备。它可以在纳米尺度上实现对样品表面形貌、力学、电学、摩擦学和粘性等多种物理性质的同步检测，具有分辨率高、操控精确的特点，可以对材料开展三维形貌、晶体结构、力学、电学及磁学性质等的微区定性\定量分析研究，并且具有强大的微纳尺度加工能力。

技术指标：

仪器扫描速度：线速度>150 Hz，成像速度> 2 mm/s。

仪器噪声水平：Z方向：开环<0.3 Å；闭环<0.35 Å（图像测试）；< 0.5 Å （力测试）；XY方向噪音：开环<0.1 nm，闭环<0.15 nm；

智能扫描功能：系统可自动调整反馈，无需寻找共振峰，无需调整反馈参数gain值。

定量力学测试模式：控制精度小于50 pN（反馈力大小可直接软件定量调整）；得到形貌同时同时获得表面能量耗散、粘滞力等力学信息。

主要功能：

(1) 材料表面原子、分子纳米级结构研究；

(2) 生物大分子结构及动态过程研究(DNA，蛋白质等)；

(3) 纳米级的刻蚀及表面修饰；

(4) 纳米水平的材料硬度、损伤等力学性质测量；

(5) 磁力显微镜功能，可以测量微区的磁学性质；

应用领域：

生命科学和材料科学